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x随着信息技术的发展,以DDR为代表的存储技术也有了巨大的飞跃,伴随着越来越高的数据速率,DDR的研发与测试也面临巨大的挑战。本次研讨会,将针对DDR芯片,主要是DDR 4和DDR 5芯片在测试过程中,遇到的一些典型问题,进行总结和讨论。
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内容亮点
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工作原理方面
DDR5软件自测原理讨论
DDR5突发读写原理
DDR5相比DDR4在总线架构、时钟、数据等方面有哪些变化
LPDDR5与LPDDR4(X)在总线架构、时钟、数据等方面有哪些不同
测试原理方面
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嘉宾介绍
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主讲嘉宾:赵传猛
主持人:王欣
是德科技行业市场经理
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礼品:倍思I-WOK系列USB非对称光源屏幕挂灯
(照片仅供参考,礼品以实物为准)
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